mirror of
https://github.com/EmbedDevIOT/obsidian-vault-.git
synced 2026-11-06 00:13:26 +03:00
Aleksey Baranov
100 lines
3.7 KiB
Markdown
100 lines
3.7 KiB
Markdown
---
|
|
tags:
|
|
- ATE
|
|
- 4t4r
|
|
- fdd
|
|
- b3
|
|
- analisys
|
|
- arch
|
|
---
|
|
---
|
|
|
|
### Архитектура
|
|
General HLBD
|
|
![[4T4R FDD/Files/image.png|720x603]]
|
|
|
|
Clock Distribution
|
|
![[4T4R FDD/Untitled Diagram.svg]]
|
|
![[Clock Distribution.svg]]
|
|
1. Архитектура RU модуля:
|
|
1. Расположение интерфейсов TOP и BОTTOM ?
|
|
2. DM
|
|
1.
|
|
3. PA
|
|
4. SWR
|
|
5.
|
|
2. ==Интерфейсы: ==
|
|
1. PAM Интерфейсный коннектор - X2
|
|
1. 40 pin connector (Solepin) 66H8-F040S1118R01
|
|
1. Power:
|
|
1. 5V5_TX
|
|
2. 28V0_PreA_CH1_VDD
|
|
3. 28V0_PreA_CH2_VDD
|
|
4. V_PA_CH1_VDD
|
|
5. V_PA_CH2_VDD
|
|
2. I2C Line
|
|
3. GPIO
|
|
1. RESET_PA_3V3
|
|
2. EN_TX_3V3
|
|
3. ALERT_PA_CH1_3V3
|
|
4. ALERT_PA_CH2_3V3
|
|
2. SWR - коннектор
|
|
1. 40 pin connector (FX27-40S-0.8SV)
|
|
2. Power: 3V8
|
|
3. I2C
|
|
3. OPT (eCPRI) - 2 коннектора
|
|
4. AISG 2.0
|
|
5. Необходимость наличия крышки над платой.
|
|
2. ==AISG==
|
|
3.
|
|
|
|
---
|
|
### ATE Production Flow
|
|
1. **DMFST Функциональное тестирование PCBA
|
|
1. Функционал:
|
|
- Косвенная проверка системы питания.
|
|
- Проверка соединения
|
|
- Обновление Firmware (slot A and slot B)
|
|
- Запись FRU Data (Board ID Area)
|
|
- Проверка внутренних компонентов и интерфейсов. (Internal Self Test)
|
|
- AISG Test. Проверка RET интерфейса:
|
|
- Проверка внешних интерфейсов:
|
|
- PAM Interfaces Test:
|
|
- I2C - эмуляция IC на PAM (по 2м каналам)
|
|
- GPIO:
|
|
- Alert_PA_1 - Установка логического уровня (DAB - Output)
|
|
- Alert_PA_2 - Установка логического уровня (DAB - GPIO Output)
|
|
- RESET_PA - Чтение логического уровня (DAB - GPIO Input)
|
|
- EN_PA - Чтение логического уровня (DAB - GPIO Input)
|
|
- PS:
|
|
- 5V5_TX
|
|
1. 28V0_PreA_CH1_VDD
|
|
2. 28V0_PreA_CH2_VDD
|
|
3. V_PA_CH1_VDD
|
|
4. V_PA_CH2_VDD
|
|
- VSWR Interfaces Test
|
|
- ADC RX Тестирование приемных RF трактов
|
|
- RX_CH1 - RX_CH4
|
|
- DPD_PA1 - DPD_PA2
|
|
- DAC TX Тестирование RF тракта передатчика
|
|
- TX_CH1 - TX_CH4
|
|
2.
|
|
|
|
2. **PAFST Функциональное тестирование PCBA
|
|
- Выполняется тонкая подстройка винтов потенциометров для 4 каналов (16 шт)
|
|
- Coupling - калибровка (калибровка переходного ослабления)
|
|
- FWD HO - Прямая волна в сторону антенны
|
|
- REFL HO - Обратная (отраженка) волна
|
|
- Directivity - калибровка ослабления для каждого канала
|
|
|
|
3. **SWRFTS Функциональное тестирование**
|
|
- Заклейка подстрочных винтов потенциометров
|
|
- Выполняется на оборудовании для заклейки винтов фильтра
|
|
|
|
4. **SWRCTS Калибровка детекторной характеристики**
|
|
- Выполняется в составе собранного RU на стенде **RUFTS** или **BTSTS**
|
|
- Выполняется софтовая компенсация нелинейности детектора
|
|
- Требуется модернизированный SwitchBox (коммутация на КЗ или проброс сигнала с одного порта на другой )
|
|
|
|
### Functional Requirements
|