vault backup: 2026-03-18 19:58:25

This commit is contained in:
Aleksey Baranov
2026-03-18 19:58:25 +03:00
parent 4c5103da3b
commit d8ca8f2d06
+15 -8
View File
@@ -35,7 +35,7 @@ Clock Distribution
4. ALERT_PA_CH2_3V3 4. ALERT_PA_CH2_3V3
2. SWR - коннектор 2. SWR - коннектор
1. 40 pin connector (FX27-40S-0.8SV) 1. 40 pin connector (FX27-40S-0.8SV)
2. 2. Power:
3. Необходимость наличия крышки над платой. 3. Необходимость наличия крышки над платой.
2. Тестирование и оснастка: 2. Тестирование и оснастка:
1. Выполняется в сборе с RU вместе с фильтром. **ОК** 1. Выполняется в сборе с RU вместе с фильтром. **ОК**
@@ -72,15 +72,22 @@ Clock Distribution
1. **DMFST Функциональное тестирование PCBA 1. **DMFST Функциональное тестирование PCBA
- Косвенная проверка системы питания. - Косвенная проверка системы питания.
- Проверка соединения - Проверка соединения
- Проверка внутренних компонентов и интерфейсов. (ADC, UVOV, EEPROM) - Обновление Firmware (slot A and slot B)
- Запись FRU Data (Board ID Area)
- Проверка внутренних компонентов и интерфейсов. (Internal Self Test)
- AISG Test. Проверка RET интерфейса:
- Проверка внешних интерфейсов:
- PAM Interfaces Test:
- I2C - эмуляция IC на PAM
- GPIO - Alert_PA_1 (Output) - Установка 1 или 0 на выходах
-
- VSWR Interfaces Test
- ADC RX Тестирование приемных RF трактов - ADC RX Тестирование приемных RF трактов
- RX_CH1 - RX_CH1 - RX_CH4
- RX_CH2 - DPD_PA1 - DPD_PA2
- RX_CH3
- RX_CH4
- DPD_PA1
- DPD_PA2
- DAC TX Тестирование RF тракта передатчика - DAC TX Тестирование RF тракта передатчика
- TX_CH1 - TX_CH4
-
2. **PAFST Функциональное тестирование PCBA 2. **PAFST Функциональное тестирование PCBA
- Выполняется тонкая подстройка винтов потенциометров для 4 каналов (16 шт) - Выполняется тонкая подстройка винтов потенциометров для 4 каналов (16 шт)