mirror of
https://github.com/EmbedDevIOT/obsidian-vault-.git
synced 2026-11-06 00:13:26 +03:00
vault backup: 2026-03-19 13:18:46
This commit is contained in:
@@ -45,37 +45,39 @@ Clock Distribution
|
|||||||
3. OPT (eCPRI) - 2 коннектора
|
3. OPT (eCPRI) - 2 коннектора
|
||||||
4. AISG 2.0
|
4. AISG 2.0
|
||||||
5. Необходимость наличия крышки над платой.
|
5. Необходимость наличия крышки над платой.
|
||||||
|
1.
|
||||||
|
|
||||||
---
|
---
|
||||||
### ATE Production Flow
|
### ATE Production Flow
|
||||||
1. **DMFST Функциональное тестирование PCBA
|
1. **DMFST Функциональное тестирование PCBA
|
||||||
- Косвенная проверка системы питания.
|
1. Функционал:
|
||||||
- Проверка соединения
|
- Косвенная проверка системы питания.
|
||||||
- Обновление Firmware (slot A and slot B)
|
- Проверка соединения
|
||||||
- Запись FRU Data (Board ID Area)
|
- Обновление Firmware (slot A and slot B)
|
||||||
- Проверка внутренних компонентов и интерфейсов. (Internal Self Test)
|
- Запись FRU Data (Board ID Area)
|
||||||
- AISG Test. Проверка RET интерфейса:
|
- Проверка внутренних компонентов и интерфейсов. (Internal Self Test)
|
||||||
- Проверка внешних интерфейсов:
|
- AISG Test. Проверка RET интерфейса:
|
||||||
- PAM Interfaces Test:
|
- Проверка внешних интерфейсов:
|
||||||
- I2C - эмуляция IC на PAM (по 2м каналам)
|
- PAM Interfaces Test:
|
||||||
- GPIO:
|
- I2C - эмуляция IC на PAM (по 2м каналам)
|
||||||
- Alert_PA_1 - Установка логического уровня (DAB - Output)
|
- GPIO:
|
||||||
- Alert_PA_2 - Установка логического уровня (DAB - GPIO Output)
|
- Alert_PA_1 - Установка логического уровня (DAB - Output)
|
||||||
- RESET_PA - Чтение логического уровня (DAB - GPIO Input)
|
- Alert_PA_2 - Установка логического уровня (DAB - GPIO Output)
|
||||||
- EN_PA - Чтение логического уровня (DAB - GPIO Input)
|
- RESET_PA - Чтение логического уровня (DAB - GPIO Input)
|
||||||
- PS:
|
- EN_PA - Чтение логического уровня (DAB - GPIO Input)
|
||||||
- 5V5_TX
|
- PS:
|
||||||
2. 28V0_PreA_CH1_VDD
|
- 5V5_TX
|
||||||
3. 28V0_PreA_CH2_VDD
|
1. 28V0_PreA_CH1_VDD
|
||||||
4. V_PA_CH1_VDD
|
2. 28V0_PreA_CH2_VDD
|
||||||
5. V_PA_CH2_VDD
|
3. V_PA_CH1_VDD
|
||||||
- VSWR Interfaces Test
|
4. V_PA_CH2_VDD
|
||||||
- ADC RX Тестирование приемных RF трактов
|
- VSWR Interfaces Test
|
||||||
- RX_CH1 - RX_CH4
|
- ADC RX Тестирование приемных RF трактов
|
||||||
- DPD_PA1 - DPD_PA2
|
- RX_CH1 - RX_CH4
|
||||||
- DAC TX Тестирование RF тракта передатчика
|
- DPD_PA1 - DPD_PA2
|
||||||
- TX_CH1 - TX_CH4
|
- DAC TX Тестирование RF тракта передатчика
|
||||||
-
|
- TX_CH1 - TX_CH4
|
||||||
|
2.
|
||||||
|
|
||||||
2. **PAFST Функциональное тестирование PCBA
|
2. **PAFST Функциональное тестирование PCBA
|
||||||
- Выполняется тонкая подстройка винтов потенциометров для 4 каналов (16 шт)
|
- Выполняется тонкая подстройка винтов потенциометров для 4 каналов (16 шт)
|
||||||
|
|||||||
Reference in New Issue
Block a user