vault backup: 2026-03-19 13:18:46

This commit is contained in:
Aleksey Baranov
2026-03-19 13:18:47 +03:00
parent 5661be3f66
commit ab827f28de
+7 -5
View File
@@ -45,10 +45,12 @@ Clock Distribution
3. OPT (eCPRI) - 2 коннектора 3. OPT (eCPRI) - 2 коннектора
4. AISG 2.0 4. AISG 2.0
5. Необходимость наличия крышки над платой. 5. Необходимость наличия крышки над платой.
1.
--- ---
### ATE Production Flow ### ATE Production Flow
1. **DMFST Функциональное тестирование PCBA 1. **DMFST Функциональное тестирование PCBA
1. Функционал:
- Косвенная проверка системы питания. - Косвенная проверка системы питания.
- Проверка соединения - Проверка соединения
- Обновление Firmware (slot A and slot B) - Обновление Firmware (slot A and slot B)
@@ -65,17 +67,17 @@ Clock Distribution
- EN_PA - Чтение логического уровня (DAB - GPIO Input) - EN_PA - Чтение логического уровня (DAB - GPIO Input)
- PS: - PS:
- 5V5_TX - 5V5_TX
2. 28V0_PreA_CH1_VDD 1. 28V0_PreA_CH1_VDD
3. 28V0_PreA_CH2_VDD 2. 28V0_PreA_CH2_VDD
4. V_PA_CH1_VDD 3. V_PA_CH1_VDD
5. V_PA_CH2_VDD 4. V_PA_CH2_VDD
- VSWR Interfaces Test - VSWR Interfaces Test
- ADC RX Тестирование приемных RF трактов - ADC RX Тестирование приемных RF трактов
- RX_CH1 - RX_CH4 - RX_CH1 - RX_CH4
- DPD_PA1 - DPD_PA2 - DPD_PA1 - DPD_PA2
- DAC TX Тестирование RF тракта передатчика - DAC TX Тестирование RF тракта передатчика
- TX_CH1 - TX_CH4 - TX_CH1 - TX_CH4
- 2.
2. **PAFST Функциональное тестирование PCBA 2. **PAFST Функциональное тестирование PCBA
- Выполняется тонкая подстройка винтов потенциометров для 4 каналов (16 шт) - Выполняется тонкая подстройка винтов потенциометров для 4 каналов (16 шт)